Vào cuối tháng này chúng ta sẽ biết từ Samsung lý do thực sự cho toàn bộ vấn đề của pin mà Galaxy Note 7 có và điều đó đã khiến nhiều mẫu máy bị cháy trước sự ngỡ ngàng và ngạc nhiên của người dùng. Một vấn đề rất nghiêm trọng đối với công ty sẽ khiến bạn phải mất thời gian để xóa khỏi hồ sơ của bạn vì nó là một vết bẩn lớn trên sơ yếu lý lịch của bạn.
Một số lý do đã được đưa ra trở nên phù hợp hơn và có logic của chúng, chẳng hạn như lý do trong đó các điểm thoát quá gần nhau, điều này cho phép các nguồn tải và dỡ tải đến gần nhau và gây ra cháy cuối thiết bị. Một công ty kỹ thuật thiết kế công cụ, đã quyết định có một cái nhìn để kiểm tra những gì thực sự đã xảy ra.
Trong quá trình phân tích và phân tích một đơn vị, nhóm của Anna-Katrina Shedletsky, người sáng lập và Giám đốc điều hành của công ty, nhận thấy rằng việc xử lý Galaxy Note 7 theo cách thông thường, điện thoại sẽ mở rộng và giảm pin. Điều này gây áp lực lên lớp âm và dương của tế bào. Khi các lớp đó ở gần nhau, việc bảo vệ sẽ ít được sử dụng và các lớp bắt đầu ăn ngược lại với nhau bằng năng lượng, và nhiệt độ bắt đầu tăng để vụ nổ cuối cùng bắt nguồn.
Thật vậy, việc Samsung quyết định lắp một viên pin 3.500 mAh trong một không gian rất nhỏ đã làm tăng tác động tiềm tàng, mặc dù đây là nơi gây ra cuộc tranh luận thực sự. Kiểm tra pin họ cần thời gian trong một năm đối với một số bài kiểm tra và hàng nghìn bài kiểm tra trong số đó cần được kiểm tra để có được kết quả có ý nghĩa. Có thể quy trình sản xuất pin sáng tạo đã bị thay đổi khi đang trong quá trình phát triển và các phiên bản pin mới hơn không được kiểm tra nghiêm ngặt như các mẫu đầu tiên.
Dung sai được thiết kế cho khe cắm pin hoặc không gian, tại một số điểm chúng thậm chí không đạt đến 0,1 mm, không giúp được gì. Không có chỗ cho trục Z "thở", khi thường có ít nhất 10% dung sai.